ＡＦＭ-ＩＲの導入により、幅広い接合ニーズに応えます
AFM-IR（Combined atomic force microscopy and infrared spectroscopy for nanoscale chemical）は
nanoIRとも呼ばれ、官能基（分子接合の際に必要な、試料相手側の表面に備わる分子の継手のようなもの）の情報を得るためには不可欠であった従来の赤外（IR）分光法に比べ、100倍の100nm空間分解能を持つ画期的な分析装置です。

岩手大学SIPプロジェクトでは、この装置の導入により様々な部材表面の詳細な解析を行うことで、企業が必要とする多種多様な接合部材が創製できると考えております。

企業が抱える接合ニーズは様々ですので、まずはお気軽にご相談ください。

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岩手大学 研究支援・産学連携センター　　担当： 佐藤,藤沼
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